干涉儀

　　根據光的干涉原理制成的一種儀器。將來自一個光源的兩個光束*分并，各自經過不同的光程，然后再經過合并，可顯出干涉條紋。在光譜學中，應用的邁克爾遜干涉儀或法布里-珀luo干涉儀，可以準確而詳細地測定譜線的波長及其精細結構。

　　干涉儀分類

　　干涉儀分雙光束干涉儀和多光束干涉儀兩大類，前者有瑞利干涉儀、邁克耳孫干涉儀及其變型泰曼干涉儀、馬赫-秦特干涉儀等，后者有法布里-珀luo干涉儀等。

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干涉儀原理

　　利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長（～10-7米），所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所*的。北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司。